JSG-1 型光切法显微镜

名称: JSG-1 型光切法显微镜
尺寸: 31cm×17cm×41cm
材质: 金属
年代: 1981 年
产地: 上海光学仪器厂
来源: 清华大学精密仪器系捐赠

本展品为上海光学仪器厂1981 年生产的JSG-1 型光切法显微镜，清华大学精密仪器系光学及长度计量实验室使用至今并捐赠。

光切显微镜是测量表面粗糙度的仪器，可测量 R0 .8 ～ 100μm 的粗糙度。它所用的光切法原理是目前所称结构光测量方法的早期范例。仪器利用狭缝产生一道狭长的平光束，以一定的倾斜度投射到被测表面上，像用一把“光刀”去切割工件，即所谓的“光切”。光带与表面相截的交线使微观平面度的轮廓显现出来。这条光带影像可以从对应于投影光带轴线的反射方向用显微镜观察，从而进行测量。仪器采用标准尺定标，测量对象除金属表面外，还可对纸张、木材、塑料等非金属材料表面进行测量，是普通加工表面质量控制最经济的一种测量仪器。

本仪器自购入之日起，一直在面向全校机械类院系（如精密仪器系、机械系、汽车系、电机系等）开设的《公差与配合》《互换性与测量技术基础》《质量工程与计量技术基础》《光学仪器设计》等课程的实验演示中使用。表面粗糙度的测量实验，其教学要点是理解表面粗糙度的几个表述及其测量方法。该测量实验2008 年后退出教学大纲。本仪器服役接近30 年。